alpha300 A

alpha300A - Caracterización de Superficies a Escala Nanométrica

  • El Microscopio de Fuerza Atómica alpha300A de WITec está especialmente diseñado para investigación de materiales, nanotecnología y ciencias de la vida. Integra un microscopio óptico para alinear el cantilever de forma sencilla e inspeccionar la muestra con imágenes de alta calidad y resolución.

    Es compatible con todos los modos estándar de AFM, lo que garantiza una alta flexibilidad en un gran rango de aplicaciones. Este sistema modular permite la aplicación a otras técnicas como la microscopía Confocal, microscopía Raman Confocal e incluso SNOM, permitiendo un estudio más completo de la muestra. El usuario puede alternar fácilmente entre los diferentes métodos, simplemente girando la rueda de objetivos del microscopio.

Características Principales

    • Caracterización de la superficie a escala nanométrica
    • Resolución Lateral: < 1 nm
    • Resolución Topográfica: < 0.3 nm
    • Incluye una amplia gama de modos de AFM
    • Fácil acceso a la muestra en cualquier dirección
    • Simple de usar tanto en aire como en líquido
    • Tecnología única en la manipulación del cantilever, permite un ajuste fácil y cómodo
    • Mesas de barrido piezoeléctricas, precisamente controladas con TrueScan™, permite seleccionar dentro de un variado rango de barridos: 30 x 30 x 20 µm³; 100 x 100 x 20 µm³; o 200 x 200 x 20 µm³
    • Técnica de imagen no destructivo con una preparación mínima de la muestra y en la mayoría de los casos sin ninguna preparación
    • Puede combinarse con sistema de imágenes Raman Confocal y Microscopía de Campo Cercano (SNOM) en el mismo microscopio

Ejemplos de aplicación

  • Imagen Topográfica en AFM del esternónde una Oniscidea adulta (Porcellio scaber).
  • Medición de los dominios magnéticos del disco duro de un computador. Las mediciones se realizaron mediante técnica de modo AC utilizando cantilevers con puntas magnetizadas.
  • Imagen digital del modo de fuerza pulsada de bacterias fosilizadas. La imagen muestra la diferencia en los niveles de adherencia en la superficie de la muestra.

Especificaciones

  • Modos de Operación:

    • Modo contacto
    • Modo Acústico (Tapping Mode)
    • Mode de Fuerza Pulsada (DPFM)
    • Microscopía de Doble Paso (Lift Mode™)
    • Microscopía de Fuerza Magnética (MFM)
    • Microscopía de Fuerza Eléctrica (EFM)
    • Imágenes de Fase
    • Curvas de Fuerza Distancia
    • Litografía y Nano-manipulación (DaVinci)
    • Microscopía de Fuerza Lateral (LFM)
    • Microscopía de Fuerza Química (CFM)
    • Otros Modos Opcionales

    Características del Microscopio:

    • Microscopio Óptico de Investigación, con revolver para 6 objetivos.
    • Sistema de Video: Camara de video CCD
    • Fuente de iluminación blanca LED para iluminación Koehler sobre la punta y la muestra
    • Posicionamiento manual de la muestra en direcciones x-y, rango de 25 mm
    • Base de Microscopio con sistema de aislación activa de vibraciones.
    • Mesa de barrido piezoeléctrica (rango de barrido 100 x 100 x 20 µm3; otros opcionales)
  • Cantilevers de AFM:

    • Sistema de posicionamiento mecánico inercial para controlar el desplazamiento de los cantilevers de AFM
    • Permite el uso de la mayoría de los cantilevers disponibles en el mercado

    Sensores

    • Cantilevers AFM para modo Acústico AC, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos
    • Cantilevers AFM para modo Contacto, con recubrimiento relectante, pre montados en anillos magnéticos

    Tamaño de Muestras

    • Usualmente 120 mm en dirección x-y, 25 mm em altura (adaptadores para mayores alturas disponibles)

    Interfase Computacional

    • Software WITec Suite que permite tanto el control del instrumento y de las mediciones como la evaluación y procesamiento de lo datos adquiridos

Extensiones & Combinaciones

Literatura

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